• <menu id="kq8qq"><strong id="kq8qq"></strong></menu>
  • <nav id="kq8qq"><strong id="kq8qq"></strong></nav><nav id="kq8qq"></nav>
  • 商品類別
    網站導覽
    • 商品主相片
    • 商品相片

    WaveMaster?PRO 2 / PRO 2 Wafer

    商品介紹 全自動波前量測系統,配有Shack-Hartmann感測器,用於透鏡和光學晶片的串聯測試。

    WaveMaster®PRO 2 / PRO 2 Wafer

    是全自動波前量測系統,配有Shack-Hartmann感測器,用於透鏡和光學晶片的串聯測試

    大批量生產小型塑膠或玻璃鏡片的光學品質與效率要求不斷提高。使用波前測量技術在這樣的批量生產中可以產生很大的優化潛力。

    WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 Wafer為批量的光學與光學晶片檢測制定了新的標準。典型的量測時間為2秒。光學元件與托盤的快速更換可以滿足批量生產的先決要件。就測量技術而言,WaveMaster®PRO 2和PRO 2 Wafer使用Shack-Hartmann感測器以確定波前的各種衍生參數。這個非常好的資料庫可以用在其他生產中的優化。

    主要特點

    • 量測時間: 每個鏡片小於兩秒
    • 大量樣品的全自動量測 (晶圓或預載托盤)
    • 使用者可以選擇通過或失敗的標準
    • 絕對或相對的波前測量
    • 完整的波前分析(PV,RMS,Zernike,PSF,MTF,Strehl)
    • 有兩種類型的測試
    1. 用於測量球面與非球面透鏡的設置 (單透鏡或晶圓)
    2. 用於平面量測 (單面或圓片)
    • 輸出所有單鏡片的量測結果
    • 整合量測系統,用於測量晶圓方向,總體晶圓凹陷和傾斜度

    產品應用

    品質控制

    • 球面或非球面鏡片
    • 光學窗
    • 濾光片
    • 光學晶圓

    Shack-Hartmann傳感器在批量生產中的應用

    • 使用Zernike係數與設計數據進行比較
    • 直接比較主樣品
    • 使用波前分析確定MTF,材料缺陷和生產誤差
    • 楔角(可選)
    • EFL(可選)

    Technical data WaveMaster PRO2

    晶片和單透鏡的波前測量

    WaveSensor®軟體結構清晰且易於使用,包含所有測量和分析平面,球面和非球面樣品的功能。它還有一個用於WaveMaster®PRO 2和WaveMaster®PRO 2晶圓生產系統的附加模塊。

    該軟體與Shack-Hartmann傳感器進行通信,並即時分析測得的波前。此外,它還可以控制WaveMaster®儀器。

    優點

    • 通過或失敗的自動機制,可自由選擇多種判定標準
    • 波前的即時測量和分析
    • 顯示:
    1. 波前
    2. PV和RMS
    3. 強度分佈
    4. 即時相機圖像
    • 波前的Zernike歪斜和散焦係數校正
    • 測量和分析區域的可調式遮罩
    1. 圓形,矩形和橢圓形遮罩
    2. 在遮罩編輯器中的即時相機圖像顯示
    • 憑證保存
    • 相機圖像平均
    • 以不同級別的使用者帳戶權限進行登錄管理
    • 整個系統由軟件控制

    聯絡人姓名
    聯 絡 電 話
    電 子 信 箱
    詢 問 內 容
    驗證碼
    如果看不清楚請點擊圖片刷新
       
    輸入圖片上的字母
    不區分大小寫
    凤凰快三彩票 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>