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    OptiSurf?

    商品介紹 中心厚-面間隔測定裝置

    OptiSurf®

    高精度低干涉測量中心厚度、紫外線空氣間隙、VIS及IR干涉儀

    OptiSurf®用於非接觸式中心厚度和單透鏡空氣間隙及平面光學量測,在光學系統中是最理想的量測設備。

    該設備基於低同調干涉儀和光學系統掃描精度達0.15微米測量表面間距。特別是校準樣品量測軸相對於傳統系統已經大幅簡化許多: 一個創新的校準工具配合可調節的支架和軟體,即使新手操作員也可精確校準與量測。Optisurf®在產品的研發上可以大幅減少量測時間上的花費。

    OptiSurf® IR是市場上唯一一台能測量所有紅外鏡片材料的系統。OptiCentric® IR 設備升級版是IR鏡片中高精度鏡片組裝過程的一個完美輔助。

    主要特點

    • 中心厚度和空氣間隙為0.15µm量測精度 (OptiSurf® UltraPrecision)
    • 量測紫外線、可見光及紅外線 (依系統版本而定)
    • 設備數據輸入方便
    • Zemax或OptiCentric®設計導入鏡頭設計
    • 統計分析測定結果
    • 自動辨識透鏡表面並計算表面之間的距離
    • 軟體功能使得樣品對準快速且簡單
    • 非接觸量測

    產品應用

    厚度和空氣間隙的量測

    OptiSurf®低同調干涉儀可量測中心厚度和光學和全透明材質鏡頭的空氣間隙,可測量的光學厚度最高達800毫米。

    Technical-data-OptiSurf

    OptiSurf®專業軟體

    軟體透過低相干干涉儀測量距離。

    用於低相干干涉儀的OptiSurf®Professional軟體非常適用於分析光學系統的中心厚度和空氣間隔測量。

    優點

    • 支援直觀的校準和測量過程
    • 來自Zemax或透過鏡頭設計編輯器的鏡頭設計直接透過OptiCentric®介面導入。
    • 為快速精準量測而設計的自動化表面識別功能
    • 與設計數據進行比較,並確認誤差以用於品質控制
    • 測量結果統計分析: 通過/失敗分析
    • 兩種用戶介面:用於研發階段的複雜分析程序與便於生產操作的兩種介面

    升級和配件

    • 在儀器底座中整合了光學校準工具,可快速方便地校準樣品和測頭(不需與OptiCentric®結合使用)
    • 符合國際標準的OptiSurf®0.5''認證參考樣品
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